Show simple item record

dc.contributor.advisorKelecioğlu, Hülya
dc.contributor.authorÖzdoğan, Didem
dc.date.accessioned2017-06-14T10:22:22Z
dc.date.available2017-06-14T10:22:22Z
dc.date.issued2017-04-18
dc.date.submitted2017-03-24
dc.identifier.citationÖzdoğan, D. (2017). Çok boyutlu testlerde değişen madde öbeği fonksiyonunun SIBTEST yöntemiyle incelenmesi. (Yayımlanmamış Doktora Tezi). Hacettepe Üniversitesi, Eğitim Bilimleri Enstitüsü, Ankara.tr_TR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11655/3520
dc.description.abstractThis research aims to analyze the differential bundle functioning in the multi-dimensional tests. In accordance with this aim, the effect is identified through differentiating the location of item with DIF in the test (six conditions designated whether the bundle; all, a part of or none of the item excluding the bundle include DIF or not), the correlation between the dimensions (0.10-0.45-0.80), the sample size (2000-5000) and the ratio of the reference and the focus group (1/3; 1/1; 3/1). The first 10 item of the test that is comprised of 30 item is acknowledged as the bundle. The length of the test, the number of the item that the bundle includes and the ability difference between the reference and the focus groups are constant in all condition. The item parameters are generated via ITEMGAN (Ackerman, 1994b) program. The data in align with the parameters is generated via SAS program through an extended 2PL model which establishes the conditions in the research and is multidimensional. The analysis of the data is completed in SAS program, Differential Bundle Functioning is identified through SIBTEST method. The result of the research is interpreted according to the criteria of the power rate and the type I error which are the standards for determining DIF. When the results is viewed, the analysis of the bundle reveals that the correlation increased between the two dimensions, relatively the less the power rates become. The power rate at its highest in all condition is obtained when the correlation between the two dimensions is the lowest. It is observed that the power rates, which are obtained according to two different sample sizes (N=2000, 5000) in the research, increase as the sample size increases. Another variable examined in the research is the ratio of the focus and the reference groups (R/O=1/3, 1/1 and 3/1). SIBTEST, at the level of the bundle, is capable of determining DIF at its highest when the focus and the reference groups are equal. According to the result of the type I error rate, which is another criterion in the research, the error rate is identified to be relatively decreasing as the correlation between the dimensions increase and it is identified to be increasing as the sample size increases. Also according to the ratio of the focus and the reference groups, largest error rate is obtained when the sample sizes are equal. The conditions when SIBSTEST is at its best to determine DIF belong to the conditions that all item which compose the bundle indicate DIF. When all items in the bundle indicate DIF, in the conditions which include or lack the items with DIF excluding the bundle, SIBTEST at the level of the bundle determines DIF 100% precisely. That the bundle includes items which do not indicate DIF has a relatively decreasing effect on the power rates obtained at the bundle level. When the items in the bundle do not indicate DIF and when DIF is found in some items excluding the bundle and in the conditions when the items with DIF is found neither in the bundle nor in the test, it is observed that the type I error rates which belong to the bundle rather exceeds the nominal alfa level (0.05). This condition is thought to derive from the fact that the items do not indicate DIF when examined one by one, yet they increase the level of DIF when they are examined as groups. Another result of the research is that when no items are found which indicate DIF, in two different conditions when there are and are not items excluding the bundle indicate DIF, it is observed that the error rates belonging to the bundle are at closer levels. In other words, if there are no items which indicate DIF in the bundle, whether there are or are not items with DIF excluding the bundle does not have an obvious effect on the error rates obtained at the bundle level. In addition to that, a variance analysis is conducted in order to find the alteration of the type I error and the power rates accordingly to the research factors. The results show that when DIF indicating and not indicating items are found together in the bundle and when there are no items with DIF excluding the bundle, the power rates of the bundle are significant only for the main effect of the sample size. When the items with DIF and without DIF are found together and when the items with DIF exist outside of the bundle; the power rates of the bundle, the correlation between the dimensions, the size and the sample size ratio as the main effects; and only the interaction between the sample size and sample size ratio as the interaction effects are significant. When the ANOVA results of the error rates are viewed, when the items with DIF is not found in the bundle and the items with DIF are found outside of the bundle, the error rates of the bundle, the correlation between the dimensions, the sample size and the sample size ratio are found significant for the main effects. When the items with DIF is found neither in the bundle nor outside of the bundle, the error rates of the bundle, the sample size and the sample size ratio are significant for the main effects.tr_TR
dc.description.tableofcontentsKABUL ve ONAY ii ETİK BEYANNAMESİ iv TEŞEKKÜR v ÖZ vi ABSTRACT ix İÇİNDEKİLER xii TABLOLAR DİZİNİ xv ŞEKİLLER DİZİNİ xvi SİMGELER VE KISALTMALAR DİZİNİ xvii 1. GİRİŞ 1 1.1. Problem Durumu 1 1.2. Araştırmanın Amacı ve Önemi 4 1.3. Problem Cümlesi 4 1.3.1. Alt Problemler 4 1.4. Sayıltılar 6 1.5. Sınırlılıklar 6 1.6. Tanımlar 6 1.7. Araştırmanın Kuramsal Temeli 7 1.7.1. Madde Tepki Kuramı (MTK) 8 1.7.2. Çok Boyutlu Madde Tepki Kuramı (ÇBMTK) 10 1.7.2.1.Çok Boyutlu Madde Tepki Kuramı Modelleri 11 1.7.2.1.1.Çok Boyutluluk İçin Genişletilmiş İki Parametreli Lojistik Model 13 1.7.3. Değişen Madde Fonksiyonu (DMF) 17 1.7.3.1. Çok Boyutluluk Açısından DMF 20 1.7.4. Değişen Madde Öbeği Fonksiyonu (DMÖF) 23 1.7.4.1. Madde Öbeği Oluşturma Yöntemleri 25 2. İLGİLİ ARAŞTIRMALAR 28 2.1. İlgili Araştırmalar Özet 33 3. YÖNTEM 35 3.1. Araştırmanın Türü 35 3.2. Araştırmanın Verileri 35 3.3. Simülasyon Koşulları 37 3.4. Verilerin Analizi ve Değerlendirme Kriteri 40 4. BULGULAR VE TARTIŞMA 44 4.1. Bulgular 44 4.2. Tartışma 57 5. SONUÇ ve ÖNERİLER 60 5.1. Sonuçlar 60 5.2. Öneriler 62 5.2.1. Araştırmaya Dönük Öneriler 62 5.2.2. Uygulamaya Dönük Öneriler 63 KAYNAKÇA 65 EKLER DİZİNİ 69 EK 1. ETİK KOMİSYONU İZİN MUAFİYETİ FORMU 70 EK 2. ORİJİNALLİK RAPORU 71 EK 3. DMF’li MADDENİN TESTTEKİ YERİNE GÖRE ÜRETİLEN MADDE PARAMETRELERİ 73 Ek 3.a. Madde Öbeğinde Tüm Maddeler DMF Gösterdiğinde ve Madde Öbeği Dışında DMF’li Madde Bulunmadığı Durumda Üretilen Madde Parametreleri 73 Ek 3.b. Madde Öbeğinde DMF Gösteren ve Göstermeyen Maddeler Birlikte Bulunduğunda ve Madde Öbeği Dışında DMF’li Madde Bulunmadığı Durumda Üretilen Madde Parametreleri 74 Ek 3.c. Madde Öbeğindeki Tüm Maddeler DMF’li ve Madde Öbeğinin dışında DMF’li Maddeler Bulunduğunda Üretilen Madde Parametreleri 75 Ek 3.d. Madde Öbeğinde DMF Gösteren ve Göstermeyen Maddeler Birlikte Bulunduğunda ve Madde Öbeği Dışında DMF’li Maddeler Bulunduğunda Üretilen Madde Parametreleri 76 Ek 3.e. Madde Öbeğinde DMF Gösteren Madde Bulunmadığında ve Madde Öbeği Dışında DMF Gösteren Maddeler Bulunduğunda Üretilen Madde Parametreleri 77 Ek 3.f. Madde öbeğinde ve madde öbeğinin dışında DMF gösteren madde bulunmadığında Üretilen Madde Parametreleri 78 EK 4. VERİLERİN ANALİZİNDE KULLANILAN SAS KODLARI 79 EK 5. MPLUS PROGRAMI ile YAPILAN DFA SONUCUNDA ELDE EDİLEN MODEL-VERİ UYUMU ÇIKTISI 86 EK 6. MADDE ÖBEĞİNE AİT 1. TİP HATA VE GÜÇ ORANI GRAFİKLERİ 87 Ek 6.a. Madde Öbeğinde Bulunan Tüm Maddeler DMF Gösterdiğinde ve Madde Öbeği Dışında DMF Gösteren Madde Bulunmadığında Elde Edilen Güç Oranları 87 Ek 6.b. Madde Öbeğinde DMF Gösteren ve Göstermeyen Maddeler Birlikte Bulunduğunda ve Madde Öbeği Dışında DMF Gösteren Madde Bulunmadığında Elde Edilen Güç Oranları 88 Ek 6.c. Madde Öbeğinde Bulunan Tüm Maddeler DMF Gösterdiğinde ve Madde Öbeği Dışında DMF Gösteren Maddeler Bulunduğunda Madde Öbeğine Ait Güç Oranları 89 Ek 6.d. Madde Öbeğinde DMF Gösteren ve Göstermeyen Maddeler Birlikte Bulunduğunda ve Madde Öbeği Dışında DMF Gösteren Maddeler Bulunduğunda Madde Öbeğine Ait Güç Oranları 90 Ek 6.e. Madde Öbeğinde DMF Gösteren Madde Bulunmadığında ve Madde Öbeği Dışında DMF Gösteren Maddeler Bulunduğunda Madde Öbeğine Ait 1. Tip Hata Oranları 91 Ek 6.f. Madde Öbeğinde ve Madde Öbeği Dışında DMF Gösteren Maddeler Bulunmadığında Madde Öbeğine Ait 1. Tip Hata Oranları 92tr_TR
dc.language.isoturtr_TR
dc.publisherEğitim Bilimleri Enstitüsütr_TR
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesstr_TR
dc.subjectDeğişen madde fonksiyonutr_TR
dc.subjectDeğişen madde öbeği fonksiyonu
dc.subjectÇok boyutluluk
dc.subjectSIBTEST
dc.subject1. tip hata
dc.subjectGüç oranı
dc.titleÇok Boyutlu Testlerde Değişen Madde Öbeği Fonksiyonunun SIBTEST Yöntemiyle İncelenmesitr_TR
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesistr_TR
dc.description.ozetBu araştırmanın amacı, çok boyutlu testlerde değişen madde öbeği fonksiyonunun incelenmesidir. Bu amaç doğrultusunda, DMF’li maddenin testteki yeri (madde öbeğindeki ve madde öbeği dışında maddelerin tümünün, bir kısmının ya da hiç birinin DMF’li olup olmamasına göre oluşturulan altı koşul), boyutlar arası korelasyon (0.10-0.45-0.80), örneklem büyüklüğü (2000-5000) ve referans ve odak grupların oranı (1/3-1/1-3/1) farklılaştırılarak bu etki belirlenmeye çalışılmıştır. Çalışmada 30 maddelik testin ilk 10 maddesi madde öbeği olarak kabul edilmiştir. Test uzunluğu, madde öbeğinin içerdiği madde sayısı ve odak ve referans gruplar arasındaki yetenek farkı her koşulda sabit tutulmuştur. Madde parametreleri ITEMGEN (Ackerman, 1994b) programında üretilmiştir. Üretilen parametrelere göre veriler, araştırmada ele alınan koşulları sağlayacak şekilde genişletilmiş iki parametreli lojistik modele göre iki kategorili (1-0) ve çok boyutlu olarak SAS programı ile üretilmiştir. Verilerin analizi SAS programında tamamlanmış, değişen madde öbeği fonksiyonu SIBTEST yöntemi kullanılarak belirlenmiştir. Araştırma sonuçları DMF belirleme ölçütleri olan 1. tip hata ve güç oranı kriterlerine göre yorumlanmıştır. Çalışmadan elde edilen sonuçlar incelendiğinde, madde öbeği düzeyinde yapılan analizler sonucunda iki boyut arasındaki korelasyon arttıkça güç oranlarının nispeten azaldığı gözlenmiştir. Güç oranı bütün koşullarda en yüksek olarak iki boyut arasındaki korelasyonun en düşük olduğu durumlarda elde edilmiştir. Çalışmada incelenen iki farklı örneklem büyüklüğüne göre (N=2000,5000) elde edilen güç oranlarının, örneklem büyüklüğü arttıkça artış gösterdiği gözlenmiştir. Çalışmada incelenen diğer bir değişken odak ve referans grupların oranıdır (R/O=1/3, 1/1 ve 3/1). SIBTEST’in madde öbeği düzeyinde DMF belirleme gücü en yüksek olarak odak ve referans grupların eşit olduğu oranda elde edilmiştir. Çalışmada diğer bir ölçüt olan 1. tip hata oranı sonuçlarına göre, hata oranlarının boyutlar arasındaki korelasyon arttıkça nispeten düştüğü ve örneklem büyüklüğü arttıkça arttığı gözlenmiştir. Odak ve referans grupların oranına göre ise, en büyük hata oranları örneklem oranının eşit olduğu koşullarda elde edilmiştir. SIBTEST’in DMF belirleme gücünün en yüksek olduğu durumlar madde öbeğini oluşturan tüm maddelerin DMF gösterdiği koşullara aittir. Madde öbeğindeki tüm maddeler DMF gösterdiğinde, madde öbeği dışında DMF’li maddelerin bulunduğu ve bulunmadığı durumlarda SIBTEST madde öbeği düzeyinde DMF’yi %100 oranında doğru olarak belirlemiştir. Madde öbeğinde DMF göstermeyen maddelerin bulunmasının, madde öbeği düzeyinde elde edilen güç oranlarını nispeten düşürücü bir etkisi olmuştur. Madde öbeğindeki maddeler DMF göstermediğinde ve madde öbeği dışında kalan bazı maddelerde DMF bulunduğunda ve madde öbeğinde ve testte DMF’li madde bulunmadığı durumlarda, madde öbeğine ait 1. tip hata oranlarının nominal alfa düzeyini (0,05) oldukça aştığı gözlenmektedir. Bu durumun, maddeler tek tek ele alındığında DMF göstermezken, öbek olarak ele alındığında DMF düzeyini arttırabileceğinden kaynaklandığı düşünülmektedir. Çalışmadan elde edilen diğer bir sonuç, madde öbeğinde DMF gösteren madde bulunmadığında, madde öbeği dışında DMF gösteren maddelerin bulunduğu ve bulunmadığı durumda incelenen iki farklı koşulda, madde öbeğine ait hata oranlarının yakın değerlerde olduğu gözlenmektedir. Bir başka deyişle, madde öbeğinde DMF gösteren madde bulunmuyorsa, madde öbeği dışında DMF gösteren maddelerin bulunması ya da bulunmamasının madde öbeği düzeyinde elde edilen hata oranları üzerinde belirgin bir etkisi olmamıştır. Ayrıca madde öbeklerine ait 1. tip hata ve güç oranlarının, çalışmada ele alınan değişkenlere göre nasıl değiştiğine ilişkin varyans analizi yapılmıştır. Elde edilen sonuçlara göre, madde öbeğinde DMF gösteren ve göstermeyen maddeler birlikte bulunduğunda ve madde öbeği dışında DMF’li madde bulunmadığı durumda madde öbeğine ait güç oranları, yalnızca örneklem büyüklüğü ana etkisi için manidar bulunmuştur. Madde öbeğinde DMF gösteren ve göstermeyen maddeler birlikte bulunduğunda ve madde öbeği dışında da DMF’li maddeler bulunduğu durumda madde öbeğine ait güç oranları, ana etkilerden boyutlar arası korelasyon, örneklem büyüklüğü ve örneklem oranı, etkileşim etkilerinden ise sadece örneklem büyüklüğü ve örneklem oranı etkileşimi manidardır. Hata oranlarının ANOVA sonuçları incelendiğinde, madde öbeğinde DMF gösteren madde bulunmadığında ve madde öbeği dışında DMF’li maddeler bulunduğunda, madde öbeğine ait hata oranları, boyutlar arası korelasyon, örneklem büyüklüğü ve örneklem oranı ana etkileri için manidar bulunmuştur. Madde öbeğinde ve madde öbeği dışında DMF’li madde bulunmadığı durumda madde öbeğine ait hata oranları, örneklem büyüklüğü ve örneklem oranı ana etkileri için manidardır.tr_TR
dc.contributor.departmentEğitim Bilimleritr_TR
dc.contributor.authorIDTR149072tr_TR


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record